张兆田

研究方向为逆问题、计算机层析成像。有关研究成果应用于航空航天科技;曾获省部级一等奖和国家科技进步二等奖。1998年调入国家自然基金委信息科学部。2003年在英国曼彻斯特大学从事工业过程成像研究。

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